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x射線(xiàn)熒光膜厚儀

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產(chǎn)品型號: X-RAY XDL 210
產(chǎn)品展商: 德國菲希爾Fischer
關(guān)注指數:24343
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簡(jiǎn)單介紹
x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL?是一款應用廣泛的能量色散型x 射線(xiàn)光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來(lái)的。與上一代相類(lèi)似,它尤其適合無(wú)損測量鍍層厚度及材料分析,同時(shí)還能全自動(dòng)測量大規模生產(chǎn)的零部件及印刷線(xiàn)路板。

x射線(xiàn)熒光膜厚儀

   的詳細介紹
x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210型X 射線(xiàn)熒光光譜儀,采用手動(dòng)或自動(dòng)方式,測量和分析印刷線(xiàn)路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。英文FISCHERSCOPE X-RAY XDL。

x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210典型的應用領(lǐng)域有:

? 測量大規模生產(chǎn)的電鍍部件

? 測量薄鍍層,例如裝飾鉻

? 測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

? 全自動(dòng)測量,如測量印刷線(xiàn)路板

? 分析電鍍溶液

x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實(shí)現高計數率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數法,無(wú)論是鍍層系統還是固體和液體樣品,都能在沒(méi)有標準片的情況下進(jìn)行分析和測量。多可同時(shí)測量從氯(17)到鈾(92)中的24 種元素。XDL X 射線(xiàn)光譜儀有著(zhù)良好的長(cháng)期穩定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶(hù)經(jīng)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監控。


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210設計理念:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量?jì)x器系列。我們會(huì )根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來(lái)設定不同型號的儀器以滿(mǎn)足實(shí)際應用的需求。

XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統

高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過(guò)視頻窗口,還可以實(shí)時(shí)觀(guān)察測量過(guò)程和進(jìn)度。配有馬達驅動(dòng)X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點(diǎn),可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開(kāi)槽專(zhuān)為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長(cháng)和更寬的樣品。例如大型的線(xiàn)路板。所有的操作,測量數據的計算,以及測量數據報表的清晰顯示都是通過(guò)強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。XDL 型光譜儀是**而保護**的測量?jì)x器,型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規規定。


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210通用規范:

用途

能量色散X 射線(xiàn)熒光光譜儀 (EDXRF) 用來(lái)測量薄鍍層和微小結構,分析合金和微量組分。

元素范圍 多同時(shí)測量從氯(Cl 17)到鈾(U 92)之間的24 種元素設計理念 臺式儀器,測量門(mén)向上開(kāi)啟

測量方向 從上到下

X 射線(xiàn)源

X 射線(xiàn)源 帶鈹窗口的鎢管

高壓 三種高壓: 30 kV,40 kV,50 kV,可調整

孔徑(準直器) Ø 0.3 mm (可選:圓形Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;長(cháng)方形0.3 mm x 0.05 mm)

測量點(diǎn)

取決于測量距離及使用 的準直器大??;實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的一致。

小的測量點(diǎn)大小約Ø 0.16mm.

測量距離,如測量腔體內部

0 ~ 80 mm,未校準范圍,使用保護的DCM 功能

0 ~ 20 mm,已校準范圍, 使用保護的DCM 功能

X 射線(xiàn)探測

X 射線(xiàn)接收器 比例接收器

樣品定位

視頻顯微鏡

高分辨 CCD 彩色攝像頭, 用于查看測量位置

手動(dòng)調焦或自動(dòng)聚焦

十字線(xiàn)刻度和測量點(diǎn)大小經(jīng)過(guò)校準

測量區域照明亮度可調

激光點(diǎn)用于定位樣品

放大倍數 20x ~ 180x (光學(xué)變焦: 20x ~ 45x; 數字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

樣品臺 XDL 210

設計 固定式樣品平臺

大移動(dòng)范圍 -

X/Y 平臺移動(dòng)速度 -

X/Y 平臺移動(dòng)重復精度 -

Z 軸移動(dòng)范圍 -

可用樣品放置區域 463 x 500 mm

樣品大重量 20 kg

樣品大高度 155/90/25 mm

激光定位點(diǎn) -

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

鍍層厚度 材料分析 顯微硬度 材料測試


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210電氣參數:

電壓,頻率 AC 115 V AC 230 V 50 / 60 Hz

功率 120 W (不包括計算機)

保護等級 IP40


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210儀器規格:

外部尺寸 x x [mm]570 x 760 x 650

重量 XDL21090 kg;XDL22095 kg ;XDL230105 kg;XDL240120 kg

內部測量室尺寸 x x [mm]: 460 x 495 (參考“樣品大高度”部分的說(shuō)明)

環(huán)境要求

操作溫度 10°C 40°C / 50°F 104°F

儲藏或運輸溫度 0°C 50°C / 32°F 122°F

空氣濕度 ≤ 95 %,無(wú)結露


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210計算系統:

計算機 帶擴展卡的計算機系統

軟件

標準: WinFTM® V.6 LIGHT

可選: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER


x射線(xiàn)熒光膜厚儀|x射線(xiàn)熒光測厚儀|x-ray膜厚儀德國菲希爾
FISCHER SCOPE X-RAY XDL 210執行標準:

CE 合格標準 EN 61010

X 射線(xiàn)標準 DIN ISO 3497 ASTM B 568

型式許可

**而保護**的測量?jì)x器,型式許可符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV

法規規定。

如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型號。

涂裝 相關(guān)儀器:涂層,漆膜度測,電解膜,黏度計/度計,X線(xiàn),附著(zhù),微型,分光,霧影,反射率,,涂膜干時(shí)間記錄儀,標準光源

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